应用范围:反应样品表面三维形貌和局部物理特性,表征样品表面的高度差、粗糙度及粘弹性等。
成像模式:接触模式、动态模式、相位模式、水平力模式(LFM)、力调制模式
分辨率:水平 0.2 nm,垂直0.01nm
最大扫描范围:30μm×30μm×5μm
样品要求:样品直径≤24 mm,表面高度差≤5 μm

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应用范围:反应样品表面三维形貌和局部物理特性,表征样品表面的高度差、粗糙度及粘弹性等。
成像模式:接触模式、动态模式、相位模式、水平力模式(LFM)、力调制模式
分辨率:水平 0.2 nm,垂直0.01nm
最大扫描范围:30μm×30μm×5μm
样品要求:样品直径≤24 mm,表面高度差≤5 μm